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    上海交通大学 化学化工学院测试中心【仪器设备信息卡】

    中文名称

    透射式电子显微镜

    英文名称

    Transmission Electron Microscope

    型号

    JEM-2100

    生产商

    JEOL Ltd., Japan

    技术规格

    最大加速电压: 200 kV
    点分辩率: 0.23 nm
    线分辩率: 0.14 nm
    放大倍数: 50X - 1,500,000X

    附件

    EDS, STEM

    主要用途

    各种材料的显微形貌分析、电子衍射分析、元素组成及其在材料中的线分布和面分布。

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